- 半導體測試分選設備
本設備是一臺用于IC終端測試(FT)階段的高效分選機，采用JEDEC Tray供料方式，矩陣式吸嘴支持64個吸嘴獨立控制，配有無氮可編程三溫調節系統，實現溫度精準控制，可搭載不同的測試刺激室，為MEMS傳感器及Memory/MCU等產品測試校準提供精準刺激，設備已實現規模化量產測試，具備高性能、高穩定性和高效率的優勢。
- 應用領域
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MEMS壓力傳感器
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MEMS溫度傳感器
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MEMS陀螺儀/加速度傳感器
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存儲半導體
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功率半導體
